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高琛: 3D-RSM在外延功能薄膜微结构研究中的应用

发布时间:2025-10-20
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报告时间2025年10月22日(星期三)16:15-17:30

报告地点材料楼601会议室

报 告 人高琛 教授

工作单位中国科学院大学

举办单位材料科学与工程学院

报告简介

外延功能薄膜在微波器件中有广泛应用,其物性取决于晶体结构并强烈依赖于复杂微结构。课题组长期致力于3D-RSM方法的发展及其在复杂外延薄膜微结构研究中的应用。本报告以BaxSr1-xTiO3(SrTiO3外延膜)为例,介绍BST微结构随成分、温度演化的初步结果,同时展示了3D-RSM用于YBCO高温超导外延膜研究的设想与部分成果

报告人简介

高琛,中国科学院大学物理学院二级教授。1984年毕业于中国科学技术大学物理系,1990年获博士学位后留校。1992–1993年在法国CNRS电磁光学实验室、1995–1999年在美国Lawrence Berkeley国家实验室访问研究。1999年由中科院“百人计划”引进回国。2001年获国家杰出青年科学基金,2004年入选新世纪百千万人才工程国家级人选,2005年享受政府特殊津贴。长期从事新型功能材料研究,发展了材料基因工程高通量方法和同步辐射表征方法,在多铁、光催化、发光材料等方面取得重要进展。主持国家重点研发项目“功能薄膜材料微结构的原位同步辐射表征方法”,已发表论文200余篇,部分成果被国际同行广泛引用

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