报 告 人：Ducharne Benjamin教授

工作单位：美国普渡大学

举办单位：机械工程学院

报告人简介：

Benjamin Ducharne，2001年毕业于法国Claude Bernard Lyon大学电气工程专业（硕士学位），2003年获得电气工程博士学位。2004年，他的博士后研究主要是在比利时Montefiore研究所对磁路模型的数值进行有限元分析，并获得了里昂国家科学院（INSA）副教授的职位。目前（2019-2020年）是普渡大学（美国印第安纳州）的访问学者和中期讲师。他已经发表了50多篇国际科学论文，主要研究方向是材料表征、磁滞模型、微磁无损检测和智能材料中的多物理耦合。

学术报告信息（一）

报告题目：分数阶微积分（Fractional derivation）方法在磁滞模型中的应用

报告时间：2019年3月18日（星期一）15:00-17:00

报告地点：机械楼2楼学术报告厅

报告简介：

对于磁滞现象，空间离散模型给出了非常精确的结果。然而由于磁滞现象的高度非线性，往往在计算中产生不确定收敛，从而导致不稳定误差。并且，空间离散化模型需要大量的计算机内存，这种模拟总是非常耗时。通过一种区域模型（LumpModel）开发出一种基于分数阶微积分方法的独特替代技术，能够有效模拟磁滞现象。由于模型采用了分数阶微分算子，使得在大频率带宽上获得了非常精确的模拟结果。

学术报告信息（二）

报告题目：微磁技术（Micro-magnetic NDT）在无损检测与评估中的应用

报告时间：2019年3月19日（星期二）9:00-11:00

报告地点：机械楼2楼学术报告厅

报告简介：

对于无损检测与评估来说，大量的微磁无损检测方法可供选择，如永磁检测、磁巴克豪森噪声检测、涡流检测和增量磁导率（MIP）法等，这些检测方法依赖传感器对局部磁特性的测量，但传感器的定位和扫描方向仅限于检测平面的平行面，这会抑制方向性信息。为了克服方向性问题，提出了针探头法。利用这种方法，可以测量局部磁矢量特性，为磁定量评价提供了新的自由度。